Microscopia a scansione elettronica

Il laboratorio di microscopia a scansione elettronica (SEM) è utilizzato per la caratterizzazione dei materiali avanzati dal punto di vista morfologico ottico e composizionale grazie ad un microscopio elettronico polivalente a filamento di Tungsteno Philips XL30. La microscopia elettronica è una tecnica di imaging che utilizza una sorgente di elettroni primari a scansione per l’analisi del campione in esame. L’interazione tra il fascio sorgente e il campione genera degli elettroni o fotoni che vengono rivelati da un detector dedicato. Questa tecnica permette di analizzare le proprietà morfologiche, ottiche e composizionali di nanostrutture e materiali massivi.

Macchine presenti 

  • Philips XL30 equipaggiato con rivelatore per elettroni secondari Everhart-Thornley
  • Rivelatore di elettroni retro-scatterati
  • Rivelatore di catodoluminescenza pancromatica

 

Progetti